光學(xué)薄膜廣泛應(yīng)用于液晶顯示屏、觸摸屏、太陽(yáng)能電池板等行業(yè)，對(duì)表面質(zhì)量有極高的要求，如何保證其質(zhì)量要求，必須要借助有效的的檢測(cè)手段進(jìn)行檢測(cè)。與其他如金屬、印刷品、玻璃制品等行業(yè)同類檢測(cè)技術(shù)相比，由于薄膜的高透光性、缺陷尺寸極小、薄膜運(yùn)行速度高，致使曝光時(shí)間短，CCD感光不足，圖像整體偏暗，最終導(dǎo)致目標(biāo)與背景的灰度級(jí)差極小。傳統(tǒng)的人工目視檢驗(yàn)或離線抽檢方法勞動(dòng)強(qiáng)度大、精度低、效率不高、可靠性差等缺點(diǎn)，無(wú)法適應(yīng)現(xiàn)代化的生產(chǎn)要求。
  針對(duì)光學(xué)薄膜缺陷在線檢測(cè)的應(yīng)用特點(diǎn)，本文通過(guò)研究基于多目機(jī)器視覺(jué)的光學(xué)薄膜缺陷在線檢測(cè)系統(tǒng)，改系統(tǒng)具有在線、高速、費(fèi)接觸等特點(diǎn)，對(duì)于保證光學(xué)薄膜產(chǎn)品質(zhì)量、提高產(chǎn)品生產(chǎn)效率具有重要意義。
  本系統(tǒng)的主要研究工作主要體現(xiàn)在：
  （1）光學(xué)薄膜缺陷的成像方法
  通過(guò)對(duì)光學(xué)薄膜的生產(chǎn)工藝，分析多種缺陷的各自產(chǎn)生原因，為成像系統(tǒng)的設(shè)計(jì)提供依據(jù)。照明光源采用高功率、高亮度線性LED光源能提高薄膜缺陷的成像質(zhì)量。通過(guò)分析薄膜的光譜特性與CCD的光譜響應(yīng)特性，為光源的后續(xù)改下提供理論依據(jù)。
  （2）對(duì)多種常用的圖像處理算法逐一進(jìn)行對(duì)比，以求找出光學(xué)薄膜缺陷檢測(cè)的算法流程。
  依次采用圖像濾波、圖像分割、數(shù)學(xué)形態(tài)變換、目標(biāo)輪廓邊緣檢測(cè)、幾何形狀特征提取與失敗的算法實(shí)現(xiàn)薄膜缺陷圖像的檢測(cè)。
  （3）研究出一種基于誤差修正理論的光學(xué)薄膜缺陷分割算法，實(shí)現(xiàn)了缺陷圖像的快速精確分割?？焖偻暾胤指畛龉鈱W(xué)薄膜圖像中缺陷的外形輪廓區(qū)域。該算法的另外一個(gè)特點(diǎn)是每一個(gè)像素點(diǎn)都具有一個(gè)獨(dú)立的自適應(yīng)分割閥值，圖像分割徹底，計(jì)算量少，實(shí)現(xiàn)了缺陷的精確分割。
  （4）通過(guò)搭建實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，驗(yàn)證光學(xué)薄膜缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，驗(yàn)證了圖像采集、串口通信、以及圖像數(shù)據(jù)傳輸?shù)目刂品椒ā?br />     創(chuàng)視新科技（MVC）薄膜缺陷在線檢測(cè)系統(tǒng)用于檢測(cè)各類薄膜產(chǎn)品在生產(chǎn)過(guò)程中表面出現(xiàn)的污點(diǎn)、蚊蟲(chóng)、孔洞、晶點(diǎn)、雜質(zhì)等常見(jiàn)缺陷,系統(tǒng)可以在生產(chǎn)過(guò)程中及時(shí)的發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品表面出現(xiàn)的疵點(diǎn)信息，實(shí)時(shí)反映生產(chǎn)線表面的缺陷信息，并進(jìn)行瑕疵分類處理，完全取代人工肉眼進(jìn)行瑕疵檢測(cè)。大大的節(jié)省了生產(chǎn)成本，提高了生產(chǎn)效率，保證了薄膜的質(zhì)量。